Смотреть больше слов в «Толковом словаре иностранных слов»
корень - ДИФРАКЦИ; суффикс - ОНН; окончание - ЫЕ; Основа слова: ДИФРАКЦИОННВычисленный способ образования слова: Суффиксальный∩ - ДИФРАКЦИ; ∧ - ОНН; ⏰ ... смотреть
Gittermessung
anneaux d'interférence крист.
diffraction fringes
1. Лепестки диаграммы направленности антенной решетки, направления которых определяются направлениями максимальных лепестков множителя антенной решетки, кроме его главного лепестка Употребляется в документе: ГОСТ 23282-91 Решетки антенные. Термины и определения Телекоммуникационный словарь.2013.... смотреть
исследования структуры в-ва, основаны на изучении углового распределения интенсивности рассеяния исследуемым в-вом излучения - рентгеновского (в т. ч. синхротронного), потока электронов или нейтронов и мёссбауэровского g-излучения. Соотв. различают <i> рентгенографию, электронографию, нейтронографию</i> и мёссбауэрографию (см. ниже). Во всех случаях первичный, чаще всего монохроматич., пучок направляют на исследуемый объект и анализируют картину рассеяния. Рассеянное излучение регистрируется фотографически (рис. 1) или с помощью счетчиков. Поскольку длина волны излучения составляет обычно не более 0,2 нм, т. е. соизмерима с расстояниями между атомами в в-ве (0,1-0,4 нм), то рассеяние падающей волны представляет собой дифракцию на атомах. По дифракц. картине можно в принципе восстановить атомную структуру в-ва. Теория, описывающая связь картины упругого рассеяния с пространств. расположением рассеивающих центров, для всех излучений одинакова. Однако, поскольку взаимод. разного рода излучений с в-вом имеет разную физ. природу, конкретный вид и особенности дифракц. картины определяются разными характеристиками атомов. <p> <br> <img src="https://words-storage.s3.eu-central-1.amazonaws.com/production/article_images/5a3aa3a52685b21ade9b292f/fa1c845e-e389-4137-bafd-314db49cac01" alt="ДИФРАКЦИОННЫЕ МЕТОДЫ фото №1" align="absmiddle" class="responsive-img img-responsive" title="ДИФРАКЦИОННЫЕ МЕТОДЫ фото №1"> <br> Поэтому различные Д. м. дают сведения, дополняющие друг друга. <br> <b> Основы теории дифракции. </b> Плоскую монохроматич. волну с длиной волны l и волновым вектором <b>k</b><sub>0</sub>, где |<b>k</b><sub>0</sub>| = 2p/l, можно рассматривать как пучок частиц с импульсом <b> р</b>, где |<b> р</b>| = h/l; h - постоянная Планка. Амплитуда Fволны (с волновым вектором <b>k</b>), рассеянной совокупностью из патомов, определяется ур-нием: <br> <img src="https://words-storage.s3.eu-central-1.amazonaws.com/production/article_images/5a3aa3a52685b21ade9b292f/969f2b7e-9b3d-4566-982f-788ca0a452f7" alt="ДИФРАКЦИОННЫЕ МЕТОДЫ фото №2" align="absmiddle" class="responsive-img img-responsive" title="ДИФРАКЦИОННЫЕ МЕТОДЫ фото №2"> <br> где вектор s = (<b>k</b><i>< Ч <b>k</b></i><sub>0</sub>)/2p, <i>s =</i>2sinq/l, 2q - угол рассеяния, <i><f>j(s) -></f></i> атомный фактор, или фактор атомного рассеяния, т. е. ф-ция, определяющая амплитуду рассеяния изолированным j-м атомом (или ионом); <b><i><r>j</r></i></b> - его радиус-вектор.Аналогичное выражение можно записать, если считать, что объект объемом Vобладает непрерывной рассеивающей плотностью r(<b>r</b>): <br> <img src="https://words-storage.s3.eu-central-1.amazonaws.com/production/article_images/5a3aa3a52685b21ade9b292f/fa21432f-b880-4e5d-8f93-017b94d81353" alt="ДИФРАКЦИОННЫЕ МЕТОДЫ фото №3" align="absmiddle" class="responsive-img img-responsive" title="ДИФРАКЦИОННЫЕ МЕТОДЫ фото №3"> <br> По такой же ф-ле рассчитывают и атомный фактор <i>f(s);</i> при этом r(<b>r</b>) описывает распределение рассеивающей плотности внутри атома. Значения атомного фактора специфичны для каждого вида излучения. Рентгеновские лучи рассеиваются электронными оболочками атомов. Соответствующий атомный фактор f<sub> р</sub> при q = 0 численно равен числу электронов Z в атоме, если f<sub> р </sub> выражен в т. наз. электронных единицах, т. е. в относит. единицах амплитуды рассеяния рентгеновского излучения одним своб. электроном. С увеличением угла рассеяния f<sub> р </sub> уменьшается (рис. 2). Рассеяние электронов определяется электростатич. потенциалом атома j(<b>r</b>) (<b>r</b><i> -</i> расстояние от центра атома). Атомный фактор для электронов f<sub> э</sub> связан с f<sub> р</sub> соотношением: <br> <img src="https://words-storage.s3.eu-central-1.amazonaws.com/production/article_images/5a3aa3a52685b21ade9b292f/ff51d447-3a32-4a42-ba50-adb0e98c223e" alt="ДИФРАКЦИОННЫЕ МЕТОДЫ фото №4" align="absmiddle" class="responsive-img img-responsive" title="ДИФРАКЦИОННЫЕ МЕТОДЫ фото №4"> <br> где е - заряд электрона, m - его масса. Абс. значения f<sub> э </sub>(~10<sup>-</sup><sup>8</sup> см) значительно больше, чем f<sub> р</sub> (~10<sup>-</sup><sup>11</sup> см), т. е. атом рассеивает электроны сильнее, чем рентгеновские лучи; f<sub> э</sub> уменьшается с ростом sinq/l более резко, чем f<sub> р</sub>, но зависимость f<sub> э</sub> от Z слабее (рис. 3). Нейтроны рассеиваются ядрами атомов (фактор f<sub> н</sub>), а также благодаря взаимодействию магн. моментов нейтронов с отличными от нуля магн. моментами атомов (фактор f<sub> нм</sub>). Радиус действия ядерных сил очень мал (~10<sup>-</sup><sup>6</sup> нм), поэтому величины f<sub> н</sub> практически не зависят от q. Кроме того, факторы f<sub> н</sub> не зависят монотонно от ат. н. Z и, в отличие от f<sub> р</sub> и f<sub> э</sub>, могут принимать отрицат. значения. <br> <img src="https://words-storage.s3.eu-central-1.amazonaws.com/production/article_images/5a3aa3a52685b21ade9b292f/a08b8af3-1763-4daa-ac67-cea7b8f31fff" alt="ДИФРАКЦИОННЫЕ МЕТОДЫ фото №5" align="absmiddle" class="responsive-img img-responsive" title="ДИФРАКЦИОННЫЕ МЕТОДЫ фото №5"> <br> Рис. 2.<i></i> Зависимость абсолютных значений атомных факторов рентгеновских лучей (1), электронов (2) и нейтронов (3) от угла рассеяния q (для Рb). </p> <p> Рис. 3. Относительная зависимость усредненных по углу атомных факторов рентгеновских лучей (сплошная линия), электронов (штриховая) и нейтронов (кружки) от атомного номера Z. </p> <p> По абс. величине <i> f</i><sub> н</sub>~10<sup>-</sup><sup>12</sup> см. При точных расчетах рассматривают отклонения распределения электронной плотности или потенциала атомов от сферич. симметрии и т. наз. атомно-температурный фактор, учитывающий влияние тепловых колебаний атомов на рассеяние. Для мёссбауэровского g-излучения помимо рассеяния на электронных оболочках атомов существ. роль может играть резонансное рассеяние на ядрах (напр., <sup>57</sup>Fe), для к-рых наблюдается эффект Мёссбауэра, что и используется в структурном анализе. Фактор рассеяния f<sub> м</sub> зависит от волновых векторов и векторов поляризации падающей и рассеянной волн. Интенсивность I(s)<i></i> рассеяния объектом пропорциональна квадрату модуля амплитуды: I(s)~|F(s)|<sup>2</sup>. Экспериментально можно определить лишь модули |F(s)|, а для построения ф-ции рассеивающей плотности r(r) необходимо знать также фазы j(s) для каждого s. Тем не менее теория Д. м. позволяет по измеренным I(s)<i></i> получить ф-цию r(r), т. е. определить структуру в-в. При этом лучшие результаты получают при исследовании кристаллов. <br> <b> Структурный анализ кристаллов.</b> Монокристалл представляет собой строго упорядоченную систему, поэтому при дифракции образуются лишь дискретные рассеянные пучки, для к-рых вектор рассеяния s равен т. наз. вектору обратной решетки <b><i> Н <sub>hkl</sub></i></b>; </p> <p> <b><i> Н <sub>hkl</sub></i></b><i>= </i><b>ha* + kb* + lс*,</b> </p> <p> где a* = [bс]/W, b* = [сa]/W, с* = [ab]/W; a,b<i></i> и с - параметры ячейки кристалла; W - ее объем, W = (a[bс]).<i></i> Распределение рассеивающей плотности в элементарной ячейке представляется в виде ряда Фурье: <br> <img src="https://words-storage.s3.eu-central-1.amazonaws.com/production/article_images/5a3aa3a52685b21ade9b292f/391df634-945f-4418-bf4d-8f0c55613240" alt="ДИФРАКЦИОННЫЕ МЕТОДЫ фото №6" align="absmiddle" class="responsive-img img-responsive" title="ДИФРАКЦИОННЫЕ МЕТОДЫ фото №6"> <br> где <i>h, k, l -</i> т. <i></i> наз. миллеровские индексы отражающей плоскости, <b><i><f>hkl</f></i></b> = |<b><i><f>hkl</f></i></b>|exp[ij<b><i><sub>hkl</sub></i></b>] - соответствующая структурная амплитуда рассеянного излучения, j<b><i><sub>hkl</sub></i></b> - ее фаза. Для построения ф-ции r(<i> х, у, z</i> )по экспериментально определяемым величинам |<i><f>hkl|></f></i> применяют метод проб и ошибок, построение и анализ ф-ции межатомных расстояний, метод изоморфных замещений, прямые методы определения фаз (см. <i>Рентгенография</i>).Обработка эксперим. данных на ЭВМ позволяет восстанавливать структуру в виде карт распределения рассеивающей плотности (рис. 4). Структуры кристаллов изучают гл. обр. с помощью <i> рентгеновского структурного анализа.</i> Этим методом определено более 100 тыс. структур неорг. и орг. кристаллов. Для неорг. кристаллов с применением разл. методов уточнения (учет поправок на поглощение, анизотропию атомно-температурного фактора и т. д.) удается восстановить ф-цию r(r) с разрешением до 0,05 нм и определять расстояния между атомами с точностью ~10<sup>-</sup><sup>4</sup> нм. <br> <img src="https://words-storage.s3.eu-central-1.amazonaws.com/production/article_images/5a3aa3a52685b21ade9b292f/2b170e8b-6fca-460a-a46c-ac20209a544b" alt="ДИФРАКЦИОННЫЕ МЕТОДЫ фото №7" align="absmiddle" class="responsive-img img-responsive" title="ДИФРАКЦИОННЫЕ МЕТОДЫ фото №7"> <br> Рис. 4. Проекция ядерной плотности кристаллич. структуры дейтерированного дициандиамида C<sub>2</sub>N<sub>4</sub>D<sub>4</sub>. Пунктиром соединены атомы, связанные водородной связью. </p> <p> Это позволяет определять анизотропию тепловых колебаний атомов, особенности распределения электронов, обусловленные хим. связью, и т. д. С помощью рентгеноструктурного анализа удается расшифровывать атомные структуры кристаллов белков, молекулы к-рых содержат тысячи атомов. Дифракция рентгеновских лучей используется также для изучения дефектов в кристаллах (в рентгеновской топографии), исследования приповерхностных слоев (в рентгеновской спектрометрии), качеств. и количеств. определения фазового состава поликристаллич. материалов (в <i> рентгеновском фазовом анализе</i>)<i></i> и др. Электронография как метод изучения структуры кристаллов имеет след. особенности: 1) взаимод. в-ва с электронами намного сильнее, чем с рентгеновскими лучами, поэтому дифракция происходит в тонких слоях в-ва толщиной 1-100 нм; 2) f<sub> э</sub> зависит от атомного номера слабее, чем f<sub> р</sub>, что позволяет проще определять положение легких атомов в присут. тяжелых; 3) благодаря тому что длина волны обычно используемых быстрых электронов с энергией 50-100 кэВ составляет ок. 5.10<sup>-</sup><sup>3</sup> нм, геом. интерпретация электронограмм существенно проще. Структурная электронография широко применяется для исследования тонкодисперсных объектов, а также для изучения разного рода текстур (глинистые минералы, пленки полупроводников и т. п.). Дифракция электронов низких энергий (10-300 эВ, l 0,1-0,4 нм) - эффективный метод исследования пов-стей кристаллов: расположения атомов, характера их тепловых колебаний и т. д. <i>Электронная микроскопия</i> восстанавливает изображение объекта по дифракц. картине и позволяет изучать структуру кристаллов с разрешением 0,2-0,5 нм. Источниками нейтронов для структурного анализа служат ядерные реакторы на быстрых нейтронах, а также импульсные реакторы. Спектр пучка нейтронов, выходящих из канала реактора, непрерывен вследствие максвелловского распределения нейтронов по скоростям (его максимум при 100°С соответствует длине волны 0,13 нм). Монохроматизацию пучка осуществляют разными способами - с помощью кристаллов-монохроматоров и др. Нейтронография используется, как правило, для уточнения и дополнения рентгеноструктурных данных. Отсутствие монотонной зависимости f<sub> и</sub> от атомного номера позволяет достаточно точно определять положение легких атомов. Кроме того, изотопы одного в того же элемента могут иметь сильно различающиеся значения f<sub> и</sub> (так, f<sub> и</sub> у водорода 3,74.10<sup>-</sup><sup>13</sup> см, у дейтерия 6,67.10<sup>-</sup><sup>13</sup> см). Это дает возможность изучать расположение изотопов и получать дополнит. сведения о структуре путем изотопного замещения (рис. 4). Исследование магн. взаимод. нейтронов с магн. моментами атомов дает информацию о спинах магн. атомов. Мёссбауэровское g-излучение отличается чрезвычайно малой шириной линии - ок. 10<sup>-</sup><sup>8</sup> эВ (тогда как ширина линии характеристич. излучения рентгеновских трубок ок. 1 эВ). Это обусловливает высокую временную и пространств. согласованность резонансного ядерного рассеяния, что позволяет, в частности, изучать магн. поле и градиент электрич. поля на ядрах. Ограничения метода - слабая мощность мёссбауэровских источников и обязательное присутствие в исследуемом кристалле ядер, для к-рых наблюдается эффект Мёссбауэра. <br> <b> Структурный анализ некристаллических веществ. </b> Отдельные молекулы в газах, жидкостях и твердых аморфных телах по-разному ориентированы в пространстве, поэтому определить фазы рассеянных волн, как правило, невозможно. В этих случаях интенсивность рассеяния обычно представляют с помощью т. наз. межатомных векторов <i><r>jk</r></i>,<i></i> к-рые соединяют пары разл. атомов (j и k)<i></i> в молекулах: <i><r>jk</r></i> = <i><r>j</r></i>- <i><r>k.></r></i> Картина рассеяния усредняется по всем ориентациям: <br> <img src="https://words-storage.s3.eu-central-1.amazonaws.com/production/article_images/5a3aa3a52685b21ade9b292f/1d2a81de-a243-416e-9090-cb35e29ddc4c" alt="ДИФРАКЦИОННЫЕ МЕТОДЫ фото №8" align="absmiddle" class="responsive-img img-responsive" title="ДИФРАКЦИОННЫЕ МЕТОДЫ фото №8"> <br> где <i><r>jk</r></i> = |<i><r>j</r></i>- <i><r>k|></r></i>. В правой части ур-ния первая сумма представляет собой т. наз. атомную составляющую рассеяния I<sub>a</sub>(s), вторая - мол. составляющую I<sub> м</sub>(s). По мол. составляющей рассчитывают ряд важных характеристик молекул, напр. т. наз. ф-цию радиального распределения (спектр межъядерных расстояний), по к-рой строят геом. модель молекулы. Приведенное выражение для I(s)<i></i> лежит в основе газовой электронографии - метода изучения строения своб. молекул в газе или паре. Атомную структуру в-ва можно исследовать с помощью т. наз. EXAFS-метода (рентгеновской спектроскопии на краю поглощения), в к-ром исследуемое в-во облучают синхротронным излучением с длиной волны, соответствующей краю полосы поглощения к.-л. атома (или атомов) в структуре. Тогда по полученному спектру поглощения получают данные о расположении атомов в окрестности выбранного атома (атомов). Для систем, обладающих цилиндрич. симметрией (напр., полимеры, жидкие кристаллы), картина рассеяния представляет собой совокупность более или менее размытых кольцевых областей - диффузных пятен, по к-рой удается сделать ряд заключений о структуре объекта. При изучении стекол, разл. порошков, сплавов, р-ров макромолекул анализ рассеяния вблизи первичного пучка (т. наз. малоугловое рассеяние) позволяет определять такие характеристики дисперсной фазы, как средние размеры пор, кластеров, их распределение по размерам. При исследовании разбавленных р-ров идентичных частиц, напр., в случае биополимеров, интенсивность малоуглового рассеяния пропорциональна усредненной по всем ориентациям интенсивности рассеяния одной частицей, что позволяет определять геом. параметры и массы исследуемых частиц. <i> Лит.</i> Иверонова В. И., Ревкевич Г. П., Теория рассеяния рентгеновских лучей, М., 1972; Вилков Л. В., Мастрюков В. С., Садова Н. И., Определение геометрического строения свободных молекул, Л., 1978; Бландел Т., Джонсон Л., Кристаллография белка, пер. с англ., М., 1979;Нозиг Ю. 3., Озеров Р. П., Хенниг К., Нейтроны и твердое тело, т. 3, М., 1979; Современная кристаллография, под ред. Б. К. Вайнштейна, т. 1, М., 1979; Каули Дж., Физика дифракции, пер. с англ., М., 1979. <i> Б. К. Вайнштейн. Д. И. Свергун.</i> </p><br>... смотреть
Статьи гало гибридные материалы дислокация дифракционное определение среднего размера областей когерентного рассеяния дифракция быстрых электронов диф... смотреть
фвэ diffraction oscillations
diffractional crosstalk
diffraction streaks
diffraction fringes
perdite per diffrazione
• difrakční ztráty
pertes par diffraction
diffraction loss
дифракцио́нные решетки оптические приборы, представляющие собой совокупность большого числа параллельных щелей в каком-л, непрозрачном экране, паралле... смотреть